场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜
负责人员
李少杰, 孙冬晔, 陈茜, 魏丽娟, 盘锦分析测试中心, 潘娜娜
存放地址
盘锦校区D04104
联系电话
0427-2631844
仪器编号
21604802
规格
Nova Nano SEM 450
生产厂家
FEI
型号
Nova Nano SEM 450
制造国家
美国
分类号
03040101
出厂日期
2016-06-01
购置日期
2016-06-01
入网日期
2019-04-08
主要规格及技术指标

1、分辨率:二次电子像
 高真空模式:15 kV时1. nm;1 kV时1.4 nm
 低真空模式:3 kV时1.5 nm;1 kV时1.5 nm(Helix探头);3 kV时1.8 nm(Helix探头)
 背散射像:1V时3.5 nm
2、放大倍数范围:1~100000,
3、着陆电压:5~3 kV
4、探测器:二次电子探头、背散射电子探头、红外CCD相机
5、能谱元素分析范围:4Be~92U
6、能谱能量分辨率:优于126 eV

主要功能及特色

Nova NanoSEM 450 场发射扫描电子显微镜是表面分析重要的表征工具,具有两种成像真空模式:高真空模式和低真空模式,可以观察分析各种类型的样品;可实现固体样品的微观形貌观察和微区能谱成分、线分布及面分布分析;配备的背散射探头可获得样品的成分衬度图片;配备的低真空探头可对不导电样品进行形貌及成分分析,而不需要进行喷金处理。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品进行微米、纳米级表面特征的图像和微观分析。该仪器还配有X-射线能谱仪(EDAX),对处理过的样品和未处理的原始样品提供微区能谱成分、线分布及面分布分析。

主要附件及配置

盘锦校区D04-106A
盘锦校区D04-104A
盘锦校区万欣D04-104A
盘锦校区万欣D04-104B
盘锦校区万欣D04-106A
暂无收费信息
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